SRM 123c 不銹鋼，Cr-Ni-Nb(AISI 348)標準品以芯片形式提供，主要用于檢驗化學分析方法。固體形式的SRM 1172也可用于光學發(fā)射和x射線光譜分析方法的應(yīng)用。

分析證明：

根據(jù)分析程序的結(jié)果，列出的元素值是對標準值的最佳估計，所列數(shù)值與真實值的偏差不超過±1。在最后一個有意義的數(shù)字報告中，下標圖的偏差預(yù)計不會超過±5。

對這一證書的分析是在下列實驗室進行的：國家標準局分析化學司；馬里蘭州巴爾的摩阿姆斯特朗鋼鐵公司先進材料司；密歇根沃倫通用汽車公司研究實驗室。

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